ASTM E1441-00(2005)
计算机断层摄影(CT)成像的标准指南

Standard Guide for Computed Tomography (CT) Imaging

被代替

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 ASTM E1441-00(2005) 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

标准号

ASTM E1441-00(2005)

发布

2000年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E1441-11

当前最新

ASTM E1441-19

 

 

适用范围

1.1 计算机断层扫描 (CT) 是一种射线照相方法，只要主要目标是在三个维度上定位平面和体积细节并确定其尺寸，它就提供理想的检查技术。由于 X 射线相对良好的穿透性以及吸收截面对原子化学的敏感性，CT 可以对材料的内部结构进行非破坏性物理表征，并在有限程度上进行化学表征。此外，由于该方法是基于 X 射线的，因此它同样适用于金属和非金属样本、固体和纤维材料、以及光滑和不规则表面的物体。当与其他无损评估 (NDE) 方法（例如超声波）结合使用时，CT 数据可以提供目前无法通过任何其他方式无损提供的材料完整性评估。
1.2 本指南旨在满足工业用户的两个一般需求CT 设备：(1) 需要一个教程指南来阐述 X 射线 CT 应用于工业成像的一般原理； (2) 需要一套一致的 CT 性能参数定义，包括这些性能参数与 CT 系统规范的关系。潜在用户和购买者以及经验丰富的 CT 检查员会发现本指南是有用的信息来源，可用于确定 CT 对特定检查问题的适用性、预测新情况下 CT 系统的性能以及开发和制定新的扫描程序。
1.3 本指南未规定用于比较不同CT系统相对性能的测试对象和测试程序；它也不涉及 CT 检查技术，例如扫描参数的最佳选择、扫描程序的首选实施、图像数据分析以提取光密度信息或为新对象建立接受/拒绝标准。
1.4 标准实践和方法不属于本指南的范围。然而，建议读者检查实践通常是特定于零件和应用的，并且工业 CT 的使用还很新，在许多情况下尚未达成共识。由于CT系统硬件和性能仍在经历重大演进和改进，情况变得更加复杂。因此，避免尝试解决通用检查程序，而是对开发检查方法或修订现有检查方法的原则进行彻底的处理。
1.5 CT 的主要优点是它无损地提供定量密度测定（即，密度和几何形状）物体薄横截面的图像。由于检查薄平面之外的细节不存在结构噪声，因此图像比传统的射线照相数据更容易解释。新用户可以快速学会（通常在第一次接触该技术时）读取 CT 数据，因为与传统的投影放射线照相术相比，这些图像更接近人类思维可视化三维结构的方式。此外，由于 CT 图像是数字化的，因此它们可以被增强、分析、压缩、存档，作为数据输入到性能计算中，与其他 NDE 模式的数字数据进行比较，或传输到其他位置进行远程查看。此外，CT 图像对大于 20 至 25 像素的紧凑区域表现出增强的对比度辨别能力。这种能力没有经典的类似物。在小至感兴趣物体尺寸百分之一的五分之一的区域上，在三西格玛置信水平下，对比度辨别力优于 0.1% 是很常见的。
1.6 通过适当的校准，也可以非常准确地进行尺寸检查和绝对密度测定。准确。在尺寸上，几乎所有 CT 系统都提供粗略的像素分辨率......

ASTM E1441-00(2005)相似标准

推荐

ASTM E1441-00(2005) 中可能用到的仪器设备