ASTM A1013-00(2005)
用伏特计、安培计和瓦特计测定可控温度下软磁芯部件的高频(10 kHz-1 MHz)磁芯损耗的标准试验方法

Standard Test Method for High-Frequency (10 kHz-1 MHz) Core Loss of Soft Magnetic Core Components at Controlled Temperatures Using the Voltmeter-Ammeter-Wattmeter Method

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标准号

ASTM A1013-00(2005)

发布

2000年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM A1013-00(2013)e1

当前最新

ASTM A1013-00(2020)

 

 

适用范围

该测试方法设计用于在一定温度、频率和磁通密度范围内测试环形或配对软磁芯组件。该测试方法的再现性和可重复性使其适用于设计、规范验收、服务评估和研究与开发。
1.1 该测试方法涵盖了环形或配对软磁磁芯损耗的设备、程序和测量。磁芯元件，如软铁氧体磁芯、铁粉磁芯等，受控环境温度范围通常为 20 至 +120C，频率为 10 kHz 至 1 MHz，在正弦磁通条件下。
1.2 中规定的值和方程SI 单位的惯用（cgs-emu 和英寸-磅）应单独视为标准。在此测试方法中，SI 单位显示在括号中，但有关计算的部分除外，其中各个单位系统有单独的部分。每个系统中规定的值可能并不完全相同；因此，每个系统应独立使用。组合两个系统的值可能会导致不符合本标准。
1.3 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

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