ASTM F1375-92(2005)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 1992。
ASTM F1375-92(2005) 在中国标准分类中归属于: J04 基础标准与通用方法。
该测试方法的目的是定义测试考虑安装到高纯度气体分配系统中的组件的程序。该测试方法的应用预计会在为该安装的鉴定目的而测试的组件之间产生可比较的数据。
1.1 该测试方法建立了一个程序,用于将正常表面的元素成分与金属管材、配件、配件表面上发现的任何缺陷进行比较。阀门或任何金属部件。
1.2 本测试方法适用于管道、连接器、调节器和阀门等部件的所有钢表面,无论尺寸、样式或类型如何。
1.3 局限性:
1.3.1 本测试方法供扫描电子显微镜/能量色散 X 射线光谱仪 (SEM/EDX) 操作员使用,其技能水平通常需要 12 个月才能达到。
1.3.2 用于本研究的 SEM 应符合测试方法 F1372 中概述的限制,并且应具有 30 nm 的最小点对点分辨率。
1.4 以 SI 单位表示的数值应被视为标准。括号中给出的英寸-磅单位仅供参考。
1.5 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。具体危险说明见第 6 节。
【3】X荧光光谱仪三大分类及比较 【4】XRF及快检设备等多种仪器行业标准公示第三块 仪器结构X射线荧光光谱仪主要由以下几部分组成:激发系统,分光系统,探测系统,仪器控制和数据处理系统。X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统,结构简单。X射线激发源可用X射线发生器,也可用放射性同位素。能量色散用脉冲幅度分析器 ,探测器和记录等与色散型X射线荧光光谱仪相同。...
2.X射线荧光光谱仪DF-1000 X射线荧光光谱仪X射线荧光光谱仪一种射线式分析仪器,通过物质被激发后释放出的特征X射线荧光的波长和强度,从而对元素进行定性和定量分析。组成:一次X射线源和样品室、分光晶体和平行光管、检测器和记录显示仪器。用途:能分析原子序数 12~92的所有元素,以及各种形态样品的无标半定量分析。...
在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(X-荧光)。从不同的角度来观察描述X射线,可将XRF分为能量散射型X射线荧光光谱仪,缩写为EDXRF或EDX和波长散射型X射线荧光光谱仪,可缩写为WDXRF或WDX,但市面上用的较多的为EDX。WDX用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。...
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