ASTM F2073-01(2006) 薄膜开关无损短路检验的标准试验方法引用关系

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标准号: ASTM F2073-01(2006)
发布: 2001年
发布单位: 美国材料与试验协会
替代标准: ASTM F2073-14
当前最新: ASTM F2073-14

必须评估破坏性和非破坏性测试特性，以确保薄膜开关能够正常运行并在其设计的应用中正常运行。对生产批次的每个膜进行所有测试是不可行的。然而，必须对每个开关组件执行一些非破坏性测试，以确保 100% 的功能，并检查每个 I/O 点与任何其他 I/O 点是否存在不需要的电气连续性是这些特性之一。 1.1 本标准规定检测薄膜开关中不必要的电气短路的测试方法。 1.2 ...

ASTM F2073-01(2006)
薄膜开关无损短路检验的标准试验方法

Standard Test Method for Non-Destructive Short Circuit Testing of a Membrane Switch

被代替

说明：

ASTM F2073-01(2006)薄膜开关无损短路检验的标准试验方法

Standard Test Method for Non-Destructive Short Circuit Testing of a Membrane Switch

被代替

说明：

ASTM F2073-01(2006)
薄膜开关无损短路检验的标准试验方法