ASTM B487-85(2002)
用横断面显微观察法测定金属及氧化层厚度的标准试验方法

Standard Test Method for Measurement of Metal and Oxide Coating Thickness by Microscopical Examination of a Cross Section

被代替

ASTM B487-85(2002) 发布历史

ASTM B487-85(2002)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 1985。

ASTM B487-85(2002) 在中国标准分类中归属于: H21 金属物理性能试验方法。

ASTM B487-85(2002)的历代版本如下：

• 2020年 ASTM B487-20 通过横截面显微镜检查测量金属和氧化物涂层厚度的标准测试方法
• 1985年 ASTM B487-85(2013) 用横断面显微观察法测定金属及氧化层厚度的标准试验方法
• 1985年 ASTM B487-85(2007) 用横断面显微观察法测定金属及氧化层厚度的标准试验方法
• 1985年 ASTM B487-85(2002) 用横断面显微观察法测定金属及氧化层厚度的标准试验方法
• 1985年 ASTM B487-85(1997) 通过横截面的显微镜检查测量金属和氧化物涂层厚度的标准试验方法

1.1 本测试方法涵盖通过使用光学显微镜对横截面进行显微检查来测量金属和氧化物涂层的局部厚度。

1.2 在良好的条件下，当使用光学显微镜时，该方法能够给出 0.8 的绝对测量精度。米。这将确定测量薄涂层厚度的方法的适用性。

1.3 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。 （这尤其适用于 X2.1 中引用的化学品。）

标准号

ASTM B487-85(2002)

发布

1985年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM B487-85(2007)

当前最新

ASTM B487-20

 

 

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