ASTM F2187-02
在薄膜开关或薄膜开关组合上检测射频振动影响的标准试验方法

Standard Test Method for Determining the Effect of Random Frequency Vibration on a Membrane Switch or Membrane Switch Assembly

被代替

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标准号

ASTM F2187-02

发布

2002年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM F2187-02(2011)

当前最新

ASTM F2187-02(2019)

 

 

适用范围

现场遇到的振动通常是随机的，该测试可用于确定随机激励对薄膜开关的影响。随着时间的推移，随机振动可能会因开关部件松动或发生变化而导致机械疲劳和故障。经验表明，该测试将暴露与薄膜开关电子元件相关的潜在故障，而较低级别的测试则不会。这种做法可用于验证薄膜开关是否适合航空航天、医疗和其他应用。该测试具有潜在的破坏性，旨在用于设备鉴定。
1.1 该测试方法建立了确定随机振动在指定频率范围内对开关触点、安装硬件、粘附零部件、焊料或热熔柱、触觉设备、以及与薄膜开关或薄膜开关组件相关的电缆或带状互连。

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