找不到引用ASTM D4780-95(2007) 用多点氪吸附法测定催化剂的低表面面积的标准试验方法 的标准
馏程仪MINIDIS符合ASTM D7344 标准闪点仪MINIFLASH符合ASTM D6450 ASTM D7094标准蒸汽压测试仪MINIVAP符合ASTM D6378ASTM D6897标准德国Elementar硫氮分析仪 trace SNS:SHT 0689-2000 N:ASTM D4629-2010SH/T 0657-2007紫外荧光法测定原料中的S含量,避免加工的原料中含有痕量硫化合物引起催化剂中毒...
这些新技术的采用,可以用氮吸附测定0.005 m²/g左右的比表面积,大大突破了常规氮吸附的比表面下限极值(0.01m²/g)。一种电解质膜的BET比表面=0.0076m²/g仪器的长期稳定性是低比表面材料样品质量检测和质量控制的基础保证。为了验证新技术的准确性和长期稳定性,使用氮气测试比表面标准样品(标称值0.221±0.013m²/g,氪吸附)的重复性偏差(下表)。...
总结起来就是这样子的:BET方法仅适用于P/P0=0.05—0.35之间的也就是Ⅱ和Ⅳ吸附等温曲线各类孔相应的测试方法吸附剂孔径范围不同,表观性质不同,对应的测试方法亦不同。微孔:低温静态容量法测定。液氮温度下,用氪气作为吸附气体。(在液氮温度下,氪气的饱和蒸气压为3—5mmHg,P/P0的P就可以很小)。 中孔:低温静态容量法测定。液氮温度下,以氮气作为吸附气体。...
总结起来就是这样子的:BET方法仅适用于P/P0=0.05—0.35之间的也就是Ⅱ和Ⅳ吸附等温曲线6各类孔相应的测试方法吸附剂孔径范围不同,表观性质不同,对应的测试方法亦不同。微孔:低温静态容量法测定。液氮温度下,用氪气作为吸附气体。(在液氮温度下,氪气的饱和蒸气压为3—5mmHg,P/P0的P就可以很小)。 中孔:低温静态容量法测定。液氮温度下,以氮气作为吸附气体。...
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