ASTM F676-97(2003)
测量不饱和的晶体管逻辑电路吸收电流的试验方法
Standard Test Method for Measuring Unsaturated TTL Sink Current
2009-12
- 标准号
- ASTM F676-97(2003)
- 发布
- 1997年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 当前最新
- ASTM F676-97(2003)
- 引用标准
- ASTM E178
- 适用范围
- 不饱和灌电流是一个特殊的参数，与TTL电路的输出晶体管的增益密切相关。该参数在评估 TTL 器件中的中子退化时特别有用，因为它随着器件退化而变化平滑，并且在中等辐射水平下比标准电气参数表现出更大的变化。
1.1 该测试方法涵盖了晶体管不饱和灌电流的测量规定条件下的晶体管逻辑（TTL）器件。
1.2 单位8212；国际单位制（SI）中规定的值被视为标准值。本标准中不包含其他测量单位。
1.3 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。
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