ASTM E82-91(2001)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 1991。
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1.1 本测试方法涵盖用于确定金属晶体取向的背反射劳厄程序。用于确定晶体取向 (1, 2) 的背反射劳厄方法可应用于多晶聚集体中的粗晶粒 (3)(0.5 毫米直径或更大)以及任何尺寸的单晶。该方法是参考立方晶体来描述的;它同样适用于六方、四方或斜方晶体。
1.2 大多数天然晶体具有发育良好的外表面,此类晶体的取向通常可以通过检查来确定。面发育不良或根本没有面的晶体(例如,实验室制备的金属晶体)的取向必须通过更复杂的方法来确定。其中最方便、最准确的是使用 X 射线衍射。当参考晶体样本的表面几何形状定位晶胞的晶体轴的空间位置时,“金属晶体的取向”是已知的。晶胞位置和表面几何形状之间的这种关系最方便地通过立体投影或心轴投影来表达。
1.3 以英寸-磅为单位的数值应视为标准值。
1.4 本标准无意解决与其使用相关的安全问题。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。
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