碳黑,颗粒缩径和大型样品混合用标准规程 是非强制性国家标准,您可以免费下载预览页
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SediGraph III粒度仪通过X射线吸收测量样品质量,利用国际标准的沉降法测量粒度,无需建模。该产品的技术已成为全球造纸、陶瓷、磨料等数个行业的金色标准。SediGraph粒度仪使用沉降法从均相液体中分析不同大小的固体颗粒物。通过对X-射线的吸收测量可以直接检测分离固体颗粒物的质量浓度。测定一定密度颗粒在已知密度和粘度的液体中的沉降,即可以运用Stokes方程来计算颗粒的等效球直径。...
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