ASTM F1663-95(2002)
测定薄膜开关电阻的标准试验方法

Standard Test Method for Determining the Capacitance of a Membrane Switch


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标准号
ASTM F1663-95(2002)
发布
1995年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM F1663-09
当前最新
ASTM F1663-15
 
 
电容测试对于设计验证、材料质量控制和工艺非常有用。高电容可能会干扰接口电子器件的可靠性能。测试的具体领域包括但不限于: 3.3.1 导体/电介质/导体交叉点, 3.3.2 导体的紧密接近,以及 3.3.3 任何其他导电表面,例如屏蔽或金属背板。 1.1 本测试方法涵盖了薄膜开关电容的确定。

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