ASTM B567-98(2003)
用β射线反向散射法测定覆层厚度的标准试验方法

Standard Test Method for Measurement of Coating Thickness by the Beta Backscatter Method


 

 

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标准号
ASTM B567-98(2003)
发布
1998年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM B567-98(2009)
当前最新
ASTM B567-98(2021)
 
 
适用范围
涂层的厚度或单位面积的质量通常对其性能至关重要。对于某些涂层-基材组合,β反向散射法是无损测量涂层的可靠方法。如果规定了单位面积的质量,则该测试方法适用于厚度规范的验收。如果规定了涂层厚度并且涂层材料的密度可能变化或未知,则不适合接受规范。
1.1 本测试方法适用于对金属和非金属基材上的金属和非金属涂层进行无损测量的β反向散射计。
1.2 本试验方法测量单位面积涂层的质量,如果已知涂层的密度,也可以用线性厚度单位表示。
1.3 本试验方法仅适用于涂层和基体的原子序数或等效原子序数相差适当量的情况(见7.2)。
1.4 Beta 反向散射仪器采用多种不同的放射性同位素。尽管这些同位素的活度通常很低,但如果处理不当,它们可能会带来危险。本标准无意解决放射性材料的安全问题和正确处理。用户有责任遵守有关处理和使用放射性材料的适用的州和联邦法规。一些国家要求对放射性同位素进行许可和登记。
1.5 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

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