BS EN 60749-38:2008由英国标准学会 GB-BSI 发布于 2008-06-30,并于 2008-06-30 实施。
BS EN 60749-38:2008 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合,在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。
IEC 60749 的这一部分建立了测量带有存储器的半导体器件在受到 α 辐射等高能粒子影响时的软错误敏感性的程序。 描述了两个测试;使用阿尔法辐射源的加速测试和(非加速)实时系统测试,其中在自然发生的辐射(可以是阿尔法或其他辐射(例如中子))的条件下产生任何错误。 为了完全表征具有存储器的集成电路的软错误能力,必须使用额外的测试方法对设备进行广泛的高能谱和热中子测试。 该测试方法可以应用于任何类型的具有存储器件的集成电路。
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