EN 1071-4:2006由欧洲标准化委员会 IX-CEN 发布于 2006-02-01。
EN 1071-4:2006在国际标准分类中归属于: 81.060.30 高级陶瓷。
本欧洲标准描述了使用扫描电子显微镜(SEM)或电子探针微量分析仪通过电子探针微量分析(EPMA)对陶瓷涂层进行化学分析的方法。 所描述的方法仅限于在分析时对单层涂层进行检查。 垂直于样品表面进行,但如果各个层或渐变的厚度大于特征 X 射线或荧光 X 射线所在材料体积的最大宽度,则也可以在横截面中分析渐变和多层涂层。 注意此方法也可用于散装材料的分析
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