ASTM E2597-07e1
数字探测器阵列设定的标准方法

Standard Practice for Manufacturing Characterization of Digital Detector Arrays

被代替

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标准号

ASTM E2597-07e1

发布

2007年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E2597/E2597M-14

当前最新

ASTM E2597/E2597M-22

 

 

适用范围

这种实践提供了一种在一组通用技术测量上比较 DDA 的方法，认识到即使使用给定几何放大倍率的不同 DDA 或其他可以补偿设备缺点的工业放射设置，在实践中也可以进行调整以获得类似的结果。 。用户必须理解本实践中使用的定义和相应的性能参数，以便就如何在目标应用程序中使用给定的 DDA 做出明智的决定。每个 DDA 的评估因素包括：基本空间分辨率 (SRb)、效率（1 mGy 下的探测器 SNR 归一化 (dSNRn)，针对不同的能量和光束质量）、可实现的对比灵敏度 (CSa)、特定材料厚度范围(SMTR)、图像滞后、烧屏、坏像素和内部散射辐射 (ISR)。
1.1 本实践描述了数字探测器阵列 (DDA) 的评估，并确保存在一个用于 DDA 定量比较的通用标准，以便选择适当的 DDA 来满足无损检测要求。
1.2 本实践旨在供 DDA 制造商或集成商使用，为 NDT 用户或购买者消费提供 DDA 特性的定量结果。其中一些测试需要专门的测试模型来确保供应商或制造商之间结果的一致性。这些测试并不是为了让用户完成，也不是为了长期稳定性跟踪和寿命测量。然而，如果需要的话，它们可以用于此目的。
1.3 以 SI 单位表示的数值应被视为标准。括号中给出的值仅供参考。
1.4 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

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