ASTM E928-08
用差分扫描量热法测定克分子杂质百分率的标准试验方法

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适用范围: 化合物的熔化温度范围随着杂质含量的升高而变宽。这种现象可以通过熔点下降的 van't Hoff 方程来近似描述。在这种熔化过程中，测量和记录进入样品的瞬时热流作为温度的函数是生成适合范特霍夫方程分析的数据的实用方法。获得的结果包括：样品纯度（以摩尔百分比表示）；熔化焓（以焦耳每摩尔表示）；以及主要成分的纯形式的熔化温度（以开尔文表示）。一般来说，该测试方法的重复性随着纯度水平的降低而降低。当混合物主要成分的纯度水平低于 98.5 mol% 或当增量焓校正 (c) 超过原始检测到的熔化焓的 20% 时，该测试方法通常被认为是不可靠的。该方法用于质量控制、规范验收和研究。
1.1 该方法描述了使用差示扫描量热法和范特霍夫方程测定纯度大于 98.5 摩尔百分比的材料的纯度。
1.2 本测试方法适用于具有明确熔化温度的热稳定化合物。
1.3 本试验方法测定纯度仅适用于杂质溶于熔体、不溶于晶体的情况。
1.4 SI值是标准值。
1.5 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。
1.6 没有与此方法等效的 ISO 方法。

ASTM E928-08用差分扫描量热法测定克分子杂质百分率的标准试验方法