EN 62429:2008
可靠性增长.在特定综合系统中早期失效应力测试

Reliability growth — Stress testing for early failures in unique complex systems

作废

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 EN 62429:2008 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

EN 62429:2008

发布

2008年

发布单位

欧洲标准化委员会

当前最新

EN 62429:2008

 

 

适用范围

无涂层玻璃光纤中残余应力分布的测量被认为很重要，因为它影响关键的光纤参数，例如折射率、固有偏振模色散、模场直径和色散。 光学偏振法是一种成熟的测量光学材料残余应力的技术。 该技术报告描述了一种横向偏振方法，用于测量任何类型光纤的残余应力分布。 详细描述了测量圆柱对称光纤光学横向应力分布的原理和详细过程。 它基于偏光镜，由固定偏振器、四分之一波片和检偏器构成。 还描述了用于测量具有圆柱形非对称结构的光纤的应力分布的光学断层扫描技术。

EN 62429:2008相似标准

推荐