6 S50.5-5mm5%读值50mm1.0Mikrotest 6 S102.5-10mm5%读值50mm2.0Mikrotest 6 S207.5-20mm5%读值100mm7.0Mikrotest 6 Ni500-50um1um或5%读值15mm非铁基体上镀镍层Mikrotest 6 Ni1000-100um1um或5%读值15mmMikrotest NiFe500-50um2um或8%读值20mm0.5...
6 S50.5-5mm5%读值50mm1.0Mikrotest 6 S102.5-10mm5%读值50mm2.0Mikrotest 6 S207.5-20mm5%读值100mm7.0Mikrotest 6 Ni500-50um1um或5%读值15mm非铁基体上镀镍层Mikrotest 6 Ni1000-100um1um或5%读值15mmMikrotest NiFe500-50um2um或8%读值20mm0.5...
产品型号: CM-8826 CM8826(分体化传感器涂层测厚仪) 功能: 测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度 测量方法:F 磁感应 NF 涡流 测量范围:0-1250um/0-50mil (标准量程) zui小曲面:F: 凸 1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm 分辨率:0.1/1 zui小测量面积:6mm zui薄基底:0.3mm...
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