电子设备用连接器.试验和测量.第25-2部分:试验25b:衰减(介入损耗)IEC 60512-25-2-2002 是非强制性国家标准,您可以免费下载预览页
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第25-1部分:试验25a:串扰比GB/T 5095.2502-2021电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)GB/T 5095.2503-2021电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减GB/T 5095.2504-2021电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分:试验25d:传输时延...
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