ASTM F2750-08
用于确定弯曲膜开关或印刷电子设备的影响的标准测试方法

Standard Test Method for Determining the Effects of Bending a Membrane Switch or Assembly


说明：

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标准号
ASTM F2750-08
发布
2008年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM F2750-09
当前最新
ASTM F2750-16
 
 
薄膜开关或其组件的弯曲会影响其视觉外观、机械完整性或电气功能。该测试方法模拟制造、安装或使用过程中可能出现的条件。弯曲测试可能具有破坏性，因此任何测试的样品都应被视为不适合将来使用。测试的具体领域包括但不限于： 薄膜开关柔性尾部，以及 薄膜开关中可能受到弯曲的任何部件。 1.1 本测试方法建立了一种用于弯曲具有导电性的薄膜开关任何部分的方法。电路。 1.1....

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谁引用了ASTM F2750-08 更多引用

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