ASTM E1935-97(2008)
校准和测量计算机断层摄影密度的标准试验方法

Standard Test Method for Calibrating and Meausring CT Density

被代替

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标准号

ASTM E1935-97(2008)

发布

1997年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E1935-97(2013)

当前最新

ASTM E1935-97(2019)

 

 

适用范围

该测试方法允许指定密度校准程序，以使用 CT 图像数据来校准和执行材料密度测量。此类测量可用于评估零件、表征特定系统或比较不同的系统，前提是观察到的变化主要由物体密度的真实变化而不是图像伪影主导。指定的程序还可用于确定 CT 系统的有效 X 射线能量。与其他基于 CT 的方法相比，推荐的测试方法更准确且不易出错，因为它考虑了 CT 系统的有效能量以及 X 射线衰减过程的能量相关效应。这种（或任何）测量密度的测试方法仅在观察到的 CT 数变化反映物体密度的真实变化而不是图像伪影的情况下才有效。伪影总是以某种程度存在，并且可以伪装成密度变化。光束硬化伪影尤其有害。用户有责任确定或建立或两者兼而有之，密度测量的有效性；也就是说，它们是在图像中不受伪影过度影响的区域中执行的。线性衰减和质量衰减可以通过多种方式测量。对于衰减和衰减测量的讨论，请参见指南 E 1441 和实践 E 1570。 1 密度校准 Phantom1.1 该测试方法涵盖了确定 X 和 射线计算机断层扫描 (CT) 系统的密度校准以及使用此信息从 CT 图像测量材料密度的说明。校准基于对嵌入已知成分和密度样本的材料盘的 CT 图像的检查。已知标准的测量平均 CT 值是通过图像分析确定的，并且通过将其测量的物理密度乘以其公布的质量衰减系数来确定其线性衰减系数。通过对数据应用线性回归来执行密度校准。校准后，图像中未知特征的线性衰减系数可以通过确定其平均 CT 值来测量。然后可以从其质量衰减系数或特征代表的知识中提取其密度。
1.2 CT 提供了一种非破坏性测量密度变化的极好方法，否则很难量化密度变化。密度本质上是物质的体积特性。随着测量体积的缩小，局部材料的不均匀性变得更加重要；并且测量值将开始随着材料的堆积密度值而变化。
1.3 所有数值均以 SI 单位表示。
1.4 本标准无意解决与其使用相关的安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

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