图二十二飞行时间二次离子质谱(ToFSIMS)ToF-SIMS是一种高度灵敏的表面分析技术,其中使用脉冲的一次离子束来提取二次离子,该二次离子通过飞行时间光谱法进行分析。 用溅射离子束交织,可以容易地获得具有极好的深度分辨率(单层)和高灵敏度(ppb)的组成深度分布图。SIMS能够分析元素周期表中的所有元素(较轻或较重)。 因此,SIMS可用于最大程度地减少繁琐的基于核技术检测较轻元素的繁琐应用。...
动态二次离子质谱分析(D-SIMS)1. 飞行时间二次离子质谱技术二次离子质谱技术(Dynamic Secondary Ion Mass Spectrometry,D-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术,通过用一次离子激发样品表面,打出极其微量的二次离子,根据二次离子的质量来测定元素种类,具有极高分辨率和检出限的表面分析技术。...
再藉着粒子束与试片物质的作用,激发出各类二次粒子(例如:可见光、二次电子、背向散射电子、穿透式电子、绕射电子、二次离子、特性 X光、绕射 X光、欧杰电子、光电子、背向散射离子、萤光等),侦测其二次粒子的能谱、质谱、光谱、或成像,即可分析材料的结构和各种特性。1XRD基本原理 X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射,主要有连续X射线和特征X射线两种。...
中文名 二次离子质谱 外文名 secondary ion mass spectroscopy(SIMS)别称:次级离子质谱、离子探针 原理:用一次离子束轰击表面用途:材料检测与表征、医药研究等二次离子质谱仪二次离子质谱( Secondary Ion Mass Spectrometry ,SIMS)是通过高能量的一次离子束轰击样品表面,使样品表面的原子或原子团吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,这些带电粒子经过质量分析器后就可以得到关于样品表面信息的图谱...
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