PAS 1022-2004
检测材料及介电材料性质以及用椭偏仪测量薄膜层厚度的参考程序

Reference procedure for the determination of optical and dielectric material properties and the layer thickness of thin films by ellipsometry


 

 

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标准号
PAS 1022-2004
发布
2004年
发布单位
德国标准化学会
 
 

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