IEEE 1505.1-2008
利用IEEE Std 1505™高密度、单天线阵电子试验要求的通用试验接口标针地图框架用IEEE试验用标准

IEEE Trial-Use Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505™

被代替

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标准号

IEEE 1505.1-2008

发布

2008年

发布单位

美国电气电子工程师学会

替代标准

IEEE 1505.1-2015

当前最新

IEEE 1505.1-2019

 

 

引用标准

IEEE Std 1505:2006

适用范围

该试用标准的范围是利用 IEEE 1505™ 1 接收器夹具接口 (RFI) 定义引脚图。本试用标准中定义的引脚图应适用于军事和航空航天自动测试设备（ATE）测试应用。

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