GB/T 22586-2008
高温超导薄膜微波表面电阻测试

Measurements of surface resistance of high temperature superconductor thin films at microwave frequencies


GB/T 22586-2008 中,可能用到以下仪器

 

透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口

透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口

上海纳腾仪器有限公司

 

GB/T 22586-2008



标准号
GB/T 22586-2008
发布日期
2008年12月15日
实施日期
2009年05月01日
废止日期
中国标准分类号
H21
国际标准分类号
77.040.99
发布单位
CN-GB
引用标准
GB/T 13811-2003
代替标准
GB/T 22586-2018
适用范围
本标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法。测试目标是在谐振频率下Rs随温度的变化。 本标准适用于表面电阻的测试范围如下: ——频率:8GHz<f<30GHz ——测试分辨率:0.01mΩ(f=10GHz) 测试报告给出在测试频率下的表面电阻值,并且给出利用Rs∝f2的关系折合到10GHz的值。

GB/T 22586-2008系列标准


GB/T 22586-2008 中可能用到的仪器设备





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