This draft standar practice pvodides a test method for generating a "Socketed Device Model" test on a component integrated circuit device.
ANSI/ESD SP5.3.2-2004由美国国家标准学会 US-ANSI 发布于 2004。
ANSI/ESD SP5.3.2-2004 在中国标准分类中归属于: L15 敏感元器件及传感器,在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。
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