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标准中将测试分为8组,分别为A组(加速环境应力试验)、B组(加速寿命模拟试验)、C组(封装完整性试验)、D组(晶圆制造可靠性测试)、E组(电学验证测试)、F组(缺陷筛选试验)、G组(密封封装完整性测试)、H组(模组特定试验)。...
一、指南方向与内容 1. 新型电子材料与器件 1.1 第三代半导体材料及应用 1.1.1 高质量第三代半导体材料关键技术 开展第三代半导体材料大尺寸、低成本、高质量衬底制备和外延技术研究,突破相关核心关键技术,满足高温、高频、高效大功率器件研制的需求。 ...
HAST高压加速老化试验箱用途: 加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。...
图5 AQG认证项目介绍表4寿命试验设备方案图6 功率循环测试机台图7 HTXB试验系统监控柜关于广电计量半导体服务广电计量在全国设有元器件筛选及失效分析实验室,形成了以博士、专家为首的技术团队,构建了元器件国产化验证与竞品分析、集成电路测试与工艺评价、半导体功率器件质量提升工程、车规级芯片与元器件AEC-Q认证等多个技术服务平台,满足装备制造、航空航天、汽车、轨道交通、5G通信、光电器件与传感器等领域的电子产品质量与可靠性的需求...
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