ISO 18118:2004
表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
ISO 18118:2004 发布历史
ISO 18118:2004由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2004-05。
ISO 18118:2004 在中国标准分类中归属于: G04 基础标准与通用方法，在国际标准分类中归属于: 71.040.40 化学分析。
本标准有等同采用的 中文版 GB/T 30702-2014 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南
ISO 18118:2004 发布之时，引用了标准
* 在 ISO 18118:2004 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。
ISO 18118:2004的历代版本如下：
- 2015年 ISO 18118:2015 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
- 2004年 ISO 18118:2004 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
本国际标准为通过俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱对均质材料进行定量分析时实验确定的相对灵敏度因子的测量和使用提供了指导。
- 标准号
- ISO 18118:2004
- 发布
- 2004年
- 中文版
- GB/T 30702-2014 (等同采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 18118:2015
- 当前最新
- ISO 18118:2015
- 引用标准
- ISO 18115 ISO 21270
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