ASTM F2750-09
测定薄膜开关或薄膜开关组合弯曲影响的标准试验方法

Standard Test Method for Determining the Effects of Bending a Membrane Switch or Assembly


哪些标准引用了ASTM F2750-09

 

ASTM F3290-17 薄膜开关或印刷电子装置处理和使用到其最终支撑结构的标准指南ASTM F3147-15 采用旋转芯轴弯曲评估柔性电路上表面安装设备 (SMD) 连接可靠性的标准试验方法ASTM F1683-09 薄膜开关、薄膜开关引线组件或薄膜开关元件折皱或弯曲的标准实施规程
标准号
ASTM F2750-09
发布
2009年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM F2750-16
当前最新
ASTM F2750-16
 
 
薄膜开关或其组件的弯曲会影响其视觉外观、机械完整性或电气功能。该测试方法模拟制造、安装或使用过程中可能出现的条件。弯曲测试可能具有破坏性，因此任何测试的样品都应被视为不适合将来使用。测试的具体领域包括但不限于： 薄膜开关柔性尾部，以及 薄膜开关中可能受到弯曲的任何部件。 1.1 本测试方法建立了一种用于弯曲具有导电性的薄膜开关任何部分的方法。电路。 1.1....

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谁引用了ASTM F2750-09 更多引用

ASTM F3290-17 薄膜开关或印刷电子装置处理和使用到其最终支撑结构的标准指南 ASTM F3147-15 采用旋转芯轴弯曲评估柔性电路上表面安装设备 (SMD) 连接可靠性的标准试验方法 ASTM F1683-09 薄膜开关、薄膜开关引线组件或薄膜开关元件折皱或弯曲的标准实施规程


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