EN 623-5:2009
高级工业陶瓷.整块陶瓷.一般性能和结构性能.第5部分:利用显微图像评估法测定相体积分数

Advanced technical ceramics - Monolithic ceramics - General and textural properties - Part 5: Determination of phase volume fraction by evaluation of micrographs

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标准号

EN 623-5:2009

发布

2009年

发布单位

欧洲标准化委员会

当前最新

EN 623-5:2009

 

 

适用范围

EN 623 的这一部分规定了一种手动测量方法，使用抛光和蚀刻部分的显微照片、覆盖方形网格线并计算每个相上的交叉点数量来确定先进技术陶瓷中主要相的体积分数。 注 1：该方法假设真实相体积分数相当于根据体视学原理随机切割横截面的面积分数。 注 2：高级技术陶瓷的抛光和蚀刻指南可在附录 A 和 B 中找到。 该方法适用于具有一种或多种不同次生相的陶瓷，例如 Al2O3/ZrO2、Si/SiC 或 Al2O3/SiCw 中的陶瓷。 如果测试材料含有离散的孔，则可以将这些孔视为本方法目的的第二相，前提是没有证据表明抛光过程中颗粒拔出与真正的孔相混淆。 注 3：如果材料含有超过 20% 的孔隙率，则在抛光过程中微观结构很可能被破坏，并且孔隙体积分数的测量可能会产生误导。 第二相体积分数或孔隙率低于 0.05 时，结果会出现相当大的误差和潜在的分散。 通常需要比最少三张更多的显微照片来提高结果的一致性和准确性。 注 4：许多陶瓷含有少量的次生玻璃相。 为了合理估计玻璃相含量，晶粒之间的玻璃材料应易于观察，因此宽度应至少为 0.5 μm。 本欧洲标准中的方法被认为不适用于颗粒周围的窄玻璃状薄膜。 该方法假设准备好的横截面的选定区域在统计上代表整个采样部分。 注 5：微观结构很少是均匀的，并且不同显微照片中的相含量可能有所不同。 必须对准备好的部分进行足够广泛的区域调查，以确保选择用于评估的区域具有代表性，并且不包含引人注目的违规行为。 本欧洲标准的一些用户可能希望对显微照片或直接捕获的微观结构图像应用自动或半自动图像分析。 这目前超出了本欧洲标准的范围，但附录 C 中给出了一些指南。

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