当银厚度为1-30 µm 范围内，测量值与标称值平均误差为0.6 µm， 30-60 µm 范围内平均误差为 1.3 µm，相对误差小于4%，在可接受范围以内，测厚范围可达1-60 µm。目前，奥林巴斯VANTATM手持式光谱分析仪（HHXRF）的镀层模式能够分析多层镀层材料，基体可以是任何类型的材料，不局限于金属。因此，在汽车制造、航空航天、电力等行业薄膜厚度测定具有巨大的应用前景。...
高精度测厚仪可快速、准确、无损地测量磁性金属基材上非磁性涂层的厚度，广泛应用于制造、金属加工、化工、商检等检测领域。由于体积小，探头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。本仪器采用磁性测厚法，可无损测量磁性金属基材的厚度。可以进行零点校准和两点校准，通过基本校准方法可以修正探头的系统误差；有两种测量模式：连续测量模式和单次测量模式；它有两种工作模式：直接模式和组模式。...
穿透涂层模式可以测量的金属厚度范围一般从大约1毫米（0.040英寸）到50毫米（2英寸）以上，具体的可测厚度取决于金属的声学特性和样件内表面的条件。回波到回波的测量范围在回波到回波模式中，可测量的厚度范围取决于所选的探头和所使用的测厚仪类型，以及被测金属的声学特性和被测表面的条件。...
涂层厚度符合工业标准：ISO 26423:2009、ISO 1071-2、VDI 3198等球坑磨损测试法：使用已知尺寸的球在涂层上磨出一定尺寸的冠状球坑，利用光学显微镜观察并测量球坑尺寸，通过几何模型推导计算涂层厚度。适用于单层或多层涂层，可以测量平面、圆柱面或球面。测量方法简单快速，只需1到2分钟即可测量出涂层厚度。...
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