BS EN 60749-33:2004
半导体器件.机械和气候试验方法.加速耐湿性.无偏差压热器
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
- 标准号
- BS EN 60749-33:2004
- 发布
- 2004年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN 60749-33:2004
- 被代替标准
- 02/206197 DC-2002
- 适用范围
- 执行无偏高压釜测试是为了评估使用湿气冷凝或湿气饱和蒸汽环境的非气密封装固态器件的防潮完整性。 它是一种高度加速的测试，利用冷凝条件下的压力、湿度和温度条件来加速水分穿过外部保护材料（封装剂或密封件）或沿着外部保护材料和穿过其的金属导体之间的界面渗透。 该测试用于识别封装内部的故障机制，并且具有破坏性。