SR 5063/6-1993
碳化硅.二氧化硅含量测定

SiWcon carbide. Df?ermin?lion of free silicon dioxide content


SR 5063/6-1993 中,可能用到以下仪器设备

 

Phosphaxsc正磷酸盐分析仪

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美国哈希公司(HACH)

 

哈希Hach Polymetron 9611sc 在线磷表

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华科仪HK-118W硅酸根监测仪

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北京华科仪科技股份有限公司

 

华科仪HK-108W磷酸根监测仪

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北京华科仪科技股份有限公司

 

WTW 磷酸盐分析仪P 700 IQ

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赛莱默分析仪器中国(Xylem Analytics)

 

WTW 正磷酸盐在线分析仪TCU/P211

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赛莱默分析仪器中国(Xylem Analytics)

 

WTW 硝氮在线分析仪TresCon N211/TresCon S211

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赛莱默分析仪器中国(Xylem Analytics)

 

WTW 亚硝氮在线分析仪TCU/N511

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赛莱默分析仪器中国(Xylem Analytics)

 

HK-208磷酸根分析仪(V3.0)

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北京华科仪科技股份有限公司

 

HK-218硅酸根分析仪(V3.0)

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北京华科仪科技股份有限公司

 

磷酸盐分析仪WTW P 700 IQ

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赛莱默分析仪器中国(Xylem Analytics)

 

标准号
SR 5063/6-1993
发布
1993年
发布单位
RO-ASRO
 
 
本标准规定了工业碳化硅中游离二氧化硅含量的测定方法。游离硅的氧化程度如何测定?通过重量法?直接的?。

SR 5063/6-1993相似标准


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