非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 STAS 8393/27-1985 前三页,或者稍后再访问。
您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。
点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......
为限制辐射影响,设备内壁各部分温度与试验规定的温度之差不大于8%,且试验样品不会受到设备内加热与冷却元件的直接辐射。...
温度变化试验是指试验时温度从高到低,后者从低到高循环的温度变化方式,一般采用SC/GDW-408D高低温试验箱、SC/KWB-100D快速温变试验箱、冷热冲击试验箱等设备,采用的标准有GB/T 2423.4-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Db: 交变湿热(12h+12h循环) 》、GB/T 2423.22-2002《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化》等...
为限制辐射影响,设备内壁各部分温度与试验规定的温度之差不大于8%,且试验样品不会受到设备内加热与冷却元件的直接辐射。...
为限制辐射影响,设备内壁各部分温度与试验规定的温度之差不大于8%,且试验样品不会受到设备内加热与冷却元件的直接辐射。...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号