IEC 62562:2010
低损耗绝缘板的复电容率的测量用空腔谐振器方法
Cavity resonator method to measure the complex permittivity of low-loss dielectric plates
- 标准号
- IEC 62562:2010
- 发布
- 2010年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 62562:2010
- 被代替标准
- IEC 46F/118/CDV:2009 IEC/PAS 62562:2008
- 适用范围
- 本国际标准的目的是描述微波频率下介电板平面方向介电性能的测量方法。这种方法称为空腔谐振器方法。它的创建是为了开发新材料和设计微波有源和无源器件，其中材料性能测量方法的标准化变得越来越重要。该方法具有以下特点：相对介电常数??可以准确、无损地测量介电板样品的损耗角正切tanδ值； ？可以测量复介电常数的温度依赖性； ？ ??' 的测量精度在 0@3 % 以内tan?? 的误差在 5??10?C6 之内； ？使用在严格分析的基础上计算出的校正图表来校正边缘效应。该方法适用于以下条件下的测量： C频率：2GHz以下～40GHz以下； ?C相对介电常数：2小于??少于100； ?C损耗角正切：10?C6小于10-2。