x 射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述修订2021-11-2431铁矿石 铝、钙、镁、锰、磷、硅和钛含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法修订2021-11-2432无损检测 红外热成像检测 热弹性应力测量方法总则制订2021-11-2433塑料 硬质塑料冲孔性能的测定 第1部分:非仪器化冲击试验制订2021-11-24既然在看了,就点一下吧!!...
在410项拟立项国家标准项目中有多项涉及仪器分析检测标准,如辉光放电质谱法、波长色散X射线荧光光谱法、电感耦合等离子体原子发射光谱法、气相色谱-质谱联用法等。...
由图中的深度剖面分布看,Si上的PtSi层约4 nm厚,而且界面处有较严重的氧吸附。图9 PtSi/Si的AES组分深度分布。5.2X射线光电子能谱法(XPS)XPS是由瑞典Uppsala大学的Kaiser Siegbahn及其同事基于光电效应的原理研制发展的的一种表面化学分析技术[34-37]。...
(差减法)制订16超导电子器件-传感器和探测器通用规范制订17番茄制品中番茄红素、叶黄素、胡萝卜素含量的测定超高效液相色谱法制订18表面化学分析全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定硅片表面元素污染制订19环境试验第3部分:支持文件及导则温度/湿度试验箱性能确认修订20表面化学分析深度剖析用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法制订21芒果叶中芒果苷的测定高效液相色谱法制订...
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