半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性测试前非密封表面安装设备预处理(IEC 60749-30-2005+A1-2011).德文版 EN 60749-30-2005+A1-2011DIN EN 61747-5-3-2010 液晶显示装置.第5-3部分:环境、耐久性和机械试验方法.玻璃强度和可靠性(IEC 61747-5-3-2009,修改件).德文版本EN 61747-5-3-2010DIN...
EN 16175-2-2016 污泥、处理的生物废物和土壤.汞的测定.第2部分:冷蒸气原子荧光光谱法(CV-AFS).德文版本EN 16175-2-2016 DIN EN 16175-1-2016 污泥、处理的生物废物和土壤.汞的测定.第1部分:冷蒸气原子吸收光谱法(CV-AAS).德文版本EN 16175-1-2016 DIN CEN/TS 16175-1-2013 污泥、处理的生物废物和土壤...
第1-2 部分:安全通用要求并列标准: 电磁兼容要求和试验GB/T 18268.1-2010 / IEC 61326-1:2005:测量、控制和实验室用的电设备电磁兼容性要求 第1 部分:通用要求联系我们CVC威凯-电子与通讯事业部联系人:杨小姐电话:020-32293842手机:13688874508邮箱:yangchr@cvc.org.cn联系人:刘先生电话:020-32368079手机:13500008291...
对于低功率电子电气设备(电磁场在10MHz-300GHz范围),2013年9月1日后,原EMF标准EN 50371:2002将被新标准EN 62479:2010所取代,新标准EN 62479:2010修改采用了IEC 62479:2010。“低功率设备”指可用天线功率和/或平均总辐射功率小于等于低功率排除电平的设备。...
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