JIS B0090-14-2010
光学元件和系统图的绘制.第14部分:波阵面变形公差
Preparation of drawings for optical elements and systems -- Part 14: Wavefront deformation tolerance
JIS B0090-14-2010 发布历史
JIS B0090-14-2010由日本工业标准调查会 JP-JISC 发布于 2010-05-20。
JIS B0090-14-2010 在中国标准分类中归属于: N30 光学仪器综合，在国际标准分类中归属于: 01.100.20 机械工程制图,37.020 光学设备。
JIS B0090-14-2010 发布之时，引用了标准
- JIS B0090-1 光学元件和系统的制图准备.第1部分:总则
- JIS B0090-5 光学元件和系统用制图准备.第5部分:表面形状公差
- JIS B0091 光学元件和光学系统的干涉测量.表面形式和波阵面变形公差的术语和定义
- ISO/TR 14999-2 光学和光子学 - 光学元件和光学系统的干涉测量 - 第2部分:测量和评估技术*， 2019-07-22 更新
* 在 JIS B0090-14-2010 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。
JIS B0090-14-2010的历代版本如下：
- 2010年05月20日 JIS B0090-14-2010 光学元件和系统图的绘制.第14部分:波阵面变形公差
- 标准号
- JIS B0090-14-2010
- 发布日期
- 2010年05月20日
- 实施日期
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- N30
- 国际标准分类号
- 01.100.20;37.020
- 发布单位
- JP-JISC
- 引用标准
- JIS B0090-1 JIS B0090-5 JIS B0091 ISO/TR 14999-2
JIS B0090-14-2010系列标准
JIS B0090-1-2007 光学元件和系统的制图准备.第1部分:总则
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