ASTM D4935-10
平面材料的电磁屏蔽效果测定的标准试验方法
Standard Test Method for Measuring the Electromagnetic Shielding Effectiveness of Planar Materials
- 标准号
- ASTM D4935-10
- 发布
- 2010年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM D4935-18
- 当前最新
- ASTM D4935-18
- 引用标准
- ASTM D1711
- 适用范围
- 本测试方法适用于法向入射、远场、平面波条件（E和H与材料表面相切）下平面材料SE的测量。测量的 SE 值的不确定度是材料、整个传输线路径的失配、测量系统的动态范围以及辅助设备的精度的函数。附录 X1 给出了不确定性分析，以说明经验丰富的操作员使用良好设备可能实现的不确定性。偏离本测试方法中的程序将增加这种不确定性。可以通过使用远场 SE 的测量值来计算 E 或 H 源的 SE 近似近场值。可以从附录 X2 中的源代码生成适合在个人计算机上使用的程序。该测试方法测量由反射和吸收引起的净SE。反射功率和吸收功率的单独测量可以通过在支架的输入端添加一个校准的双向耦合器来完成。
1.1 本测试方法提供了测量平面材料的电磁 (EM) 屏蔽效能 (SE) 的程序。平面、远场电磁波。根据测量的数据，可以计算电薄样品的磁 (H) 源的近场 SE 值。 ，电 (E) 场 SE 值也可以根据相同的远场数据计算，但其有效性和适用性尚未确定。
1.2 该测量方法在30 MHz至1.5 GHz频率范围内有效。这些限制并不精确，但基于较低频率下电容耦合减少导致的位移电流减小以及较高频率下对于所述样品架尺寸的过调制（横向电磁模式 (TEM) 以外的模式的激励）在这个测试方法中。可以在此范围内选择任意数量的离散频率。对于具有与频率无关的电导率、介电常数和磁导率等电气特性的电薄各向同性材料，可能只需要在几个频率下进行测量，因为远场 SE 值将与频率无关。如果材料不是电薄的或者任何参数随频率变化，则应在感兴趣的频带内的许多频率下进行测量。
1.3 本试验方法不适用于电缆或连接器。
1.4 单位8212；以 SI 单位表示的值被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。
1.5 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。
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