BS ISO 25498-2010
微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析

Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope

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标准号

BS ISO 25498-2010

发布日期

2010年06月30日

实施日期

2010年06月30日

废止日期

无

中国标准分类号

G04

发布单位

GB-BSI