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目前,叶片涂层厚度主要由工艺保证,也有各类型的涂层厚度测量设备,包括日本 KETT、 德国尼克斯、北京时代创合科技等公司研制的各类电涡流测厚仪、磁感应测厚仪、荧光 X 射线测厚仪、超声波测厚仪等仪器,且各类设备配置了大量的标准片和基体。现阶段对于基体厚度的测量,主要利用长度计、电感测微仪等进行整体厚度测量,但缺少针对各类测厚仪和标准片的计量手段和校准标准,严重影响了叶片涂层参数的量值传递溯源。 ...
在ISO指南30:1992《标准样品常用术语及定义》中对标准样品是这样定义的:标准样品是具有一种或多种足够均匀的和很好确定了的特性值的材料或物质,可以用来校准仪器、评价测量方法和给材料赋值。"从定义可以看出,用作参照物的标准样品提供的标准值有二个特点:1、 具有足够的均匀性。请注意不是非常均匀而是足够均匀。...
在ISO指南30:1992《标准样品常用术语及定义》中对标准样品是这样定义的:标准样品是具有一种或多种足够均匀的和很好确定了的特性值的材料或物质,可以用来校准仪器、评价测量方法和给材料赋值。"从定义可以看出,用作参照物的标准样品提供的标准值有二个特点:1、 具有足够的均匀性。请注意不是非常均匀而是足够均匀。...
第十届(2022)中国半导体设备年会时间:10月27日-29日地点:无锡太湖国际博览中心展位号:B3-117海洋光学携最新改善半导体制造工艺的光谱解决方案参展。“凝聚芯合力,发展芯设备”是半导体设备与核心部件展示会(CSEAC)的主题,产业升级是国家的大方向,中国半导体产业正在加速前进,海洋光学利用自己在光谱技术领域的多年积累,解决创新过程中遇到的问题,与产业伙伴合力推进创新发展。...
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