GOST 19014.2-1973
结晶硅.铁含量测定法

Crystal silicon. Methods of iron determination

GOST 19014.2-1973 发布历史

GOST 19014.2-1973由RU-GOST R 发布于 1973，并于 1975-01-01 实施。

GOST 19014.2-1973在国际标准分类中归属于: 29.045 半导体材料。

GOST 19014.2-1973 发布之时，引用了标准

• GOST 83-1979 试剂.碳酸钠.规范*， 1979-07-24 更新
• GOST 199-1978 试剂.乙酸钠三水合物.规范*， 1978-07-24 更新
• GOST 3118-1977 试剂.盐酸.规范*， 1977-07-24 更新
• GOST 4199-1976 试剂.10水四硼酸钠.规范*， 1976-07-24 更新
• GOST 4461-1977 试剂.硝酸.规范*， 1977-07-24 更新
• GOST 5456-1979 盐酸羟胺.技术条件*， 1979-07-24 更新
• GOST 13610-1979 无线电工业用羰基铁.规范*， 1979-07-24 更新
• GOST 19014.1-1973 结晶硅.铝含量测定法

* 在 GOST 19014.2-1973 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。

GOST 19014.2-1973的历代版本如下：

• 1973年 GOST 19014.2-1973 结晶硅.铁含量测定法

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标准号

GOST 19014.2-1973

发布日期

1973年

实施日期

1975年01月01日

废止日期

无

国际标准分类号

29.045

发布单位

RU-GOST R