GOST 19834.2-1974
半导体辐射器.辐射强度和高能亮度测量方法

Semiconductor emitters. Methods for measurement of radiant intensity and radiance

GOST 19834.2-1974 发布历史

GOST 19834.2-1974由RU-GOST R 发布于 1974，并于 1976-01-01 实施。

GOST 19834.2-1974在国际标准分类中归属于: 31.080.99 其他半导体分立器件。

GOST 19834.2-1974 发布之时，引用了标准

• GOST 19834.0-1975 半导体辐射器.参数测量的一般要求*， 1975-07-24 更新

* 在 GOST 19834.2-1974 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。

GOST 19834.2-1974的历代版本如下：

• 1974年 GOST 19834.2-1974 半导体辐射器.辐射强度和高能亮度测量方法

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标准号

GOST 19834.2-1974

发布日期

1974年

实施日期

1976年01月01日

废止日期

无

国际标准分类号

31.080.99

发布单位

RU-GOST R