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主要使用X射线束激发荧光辐射,第一次是在1928年由格洛克尔和施雷伯提出的。透射测定光谱仪的透射率或它的效率可用辅助单色仪装置来测定。在可见和近紫外实现这些测量没有任何困难。测量通过第一个单色仪的光通量,紧接着测量通过两个单色仪的光通量,以这种方式来确定第二个单色仪的透射率。绝对测量需要知道单色仪的绝对透射率:对于相对测量,以各种波长处的相对单位可以测量透射率。...
现今常用的X射线光谱技术,例如X射线光电子能谱(XPS)仅能对样品表面进行分析,无法获得体相结构信息,且需要超高真空度,通常无法对塑料,环氧树脂和树脂进行测试;X射线荧光光谱(XRF)可用作元素分析技术,但其能量分辨率较低,无法实现对Cr元素不同化合物的甄别(图1)。近年来,基于同步加速器的X射线吸收精细结构谱(XAFS)和X射线发射光谱(XES)技术,得到了长足的发展和应用。...
全新的硅漂移探测器(SDD)设计能提高分析镉和铅等RoHS物质的准确度和速度。新优化的x射线照射方法可提高分析不平坦和不规则表面的可重现性。此外,高性能探测器能提高计数率,增加探测痕量元素的精密度,并且实现测量较轻元素的卓越能力。为了确保最高生产率,将黄铜中镉的筛查(通常是XRF RoHS筛查中最具挑战性的一项)功能设计成比传统型号速度更快,从而大幅提高通量。...
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