ASTM E2445-05(2010)
计算机射线照相系统的长期稳定性与鉴定方法的标准操作规程

Standard Practice for Qualification and Long-Term Stability of Computed Radiology Systems

被代替

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标准号

ASTM E2445-05(2010)

发布

2005年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E2445/E2445M-14

当前最新

ASTM E2445/E2445M-20

 

 

适用范围

影响 CR 图像质量的因素有很多，包括 IP 系统的空间分辨率、几何不清晰度、散射和对比敏感度（信号/噪声比）。还有几个其他因素（例如扫描参数）会影响使用光学扫描仪准确读取暴露的 IP 上的图像。质量因素可以通过 CR 设备制造商测试最准确地确定，如实践 E2446 中所述。描述了推荐用于实际用户测试的单独测试目标，以保证质量。这些测试可以单独进行，也可以使用 CR 体模（附录 X1）进行。该 CR 模型包含许多基本质量评估方法以及与 CR 系统正确运行相关的方法，包括扫描仪，用于读取曝光的印版并错误地擦除 IP，以便将来使用每个印版。此做法适用于工业 CR 系统的用户。此实践定义了 CR 系统的用户定期执行的测试，以评估 CR 系统，以证明在系统的生命周期内具有适当的性能。各种测试和测试方法的应用 维修、升级或使用其他 IP 类型后的测试：由于 CR 扫描仪的维修或升级以及改进的 IP 等修改可能会改善系统的功能，因此需要专门的测试来证明CR 系统的正常性能。长期稳定性的用户测试8212；测试实验室的质量保证需要对 CR 系统进行定期测试，以证明系统的正确性能。该时间间隔取决于系统的使用程度，并且应由用户并考虑CR设备制造商的信息来定义。
6.2.1 至 6.2.6 中描述的测试需要使用 5.1 的质量指标，或者应按用户定义的时间间隔定期使用 CR 测试模型来测试基本性能。文件应包含：(1) 空间分辨率（通过双工线方法，可选的会聚线对），(2) 对比度（待检查材料的公认对比度百分比），(3) 滑动（是/否），(4 ) 抖动（是/否），(5) 阴影（选定距离的百分比），(6) 所执行测试的辐射参数，以及 (7) 日期和操作员姓名。仅当在没有 CR 设备制造商提供数据的情况下更换扫描仪或 IP 品牌，或者系统在极端（超出制造商建议）温度条件下使用时，才应执行褪色测试。在曝光和扫描之间的预期时间内，褪色应低于 50%。应检查 IP 是否存在伪影 (6.2.7) 并进行适当的擦除 (6.2.6)。扫描仪中 IP 或光电倍增管的退化可能会在大量使用后降低系统灵敏度。因此，用户或服务人员应以较长的时间间隔（例如每年一次）测量SNR。信噪比不应低于原值的90%。如果系统不清晰度不增加，则可以无限制地接受信噪比的增加。
1.1 本实践规定了计算机射线照相系统的基本参数，以确保无损检测获得满意且可重复的结果。
1.2 这个……

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