ASTM E545-05(2010)
测定直接热中子射线照相试验中成像质量的标准试验方法

Standard Test Method for Determining Image Quality in Direct Thermal Neutron Radiographic Examination

被代替

ASTM E545-05(2010) 发布历史

ASTM E545-05(2010)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2005。

ASTM E545-05(2010) 在中国标准分类中归属于: N78 Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器，在国际标准分类中归属于: 19.100 无损检测。

ASTM E545-05(2010) 发布之时，引用了标准

• ASTM E1316 无损检测标准术语
• ASTM E2003 制造中子放射线束纯度显示器的标准规程
• ASTM E2023 中子射线照相敏感度显示器制造的标准操作规程
• ASTM E543 无损检测机构的标准实施规程
• ASTM E748 材料的热中子射线照相术
• ASTM E803 测定中子射线照相束L/D比率的标准试验方法

ASTM E545-05(2010)的历代版本如下：

• 2019年 ASTM E545-19 直接热中子射线照相检验中图像质量测定的标准试验方法
• 2014年 ASTM E545-14 测定直接热中子射线照相检验中成像质量的标准试验方法
• 2005年 ASTM E545-05(2010) 测定直接热中子射线照相试验中成像质量的标准试验方法
• 2005年 ASTM E545-05 测定直接热中子射线照相检查中成像质量的标准试验方法
• 1999年 ASTM E545-99(2004) 直接热中子射线照相检验中图像质量判定的标准试验方法
• 1999年 ASTM E545-99 测定直接热中子射线照相检验中成像质量的标准试验方法

BPI 旨在产生有关中子束和图像系统参数的定量信息，这些参数有助于胶片曝光，从而影响整体图像质量。此外，BPI 可用于验证中子射线照相质量的日常一致性。 BPI 的开发和测试中使用了钆转换屏和单乳液卤化银薄膜，它们一起暴露在中子成像束中。使用替代检测系统可能会产生对第 9 节中使用的方程无效的光密度读数。唯一真正有效的灵敏度指标是参考标准部件。参考标准零件是与中子射线照相物体相同的材料或部件，但具有已知的标准不连续性、夹杂物、遗漏或缺陷。灵敏度指标旨在替代参考标准并提供有关孔和间隙灵敏度的定性信息。应在合同、采购订单、规格或图纸中规定要进行射线照相的区域或物体的数量以及所使用的胶片验收标准。

1.1 本测试方法涵盖使用图像质量指示器 (IQI) 系统来确定相对通过直接热中子射线照相检查产生的射线照相图像的质量。本测试方法中表达的要求并非旨在控制材料和部件的质量水平。

1.2 本标准无意解决与其使用相关的安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

1.3 以 SI 单位表示的值被视为标准值。

标准号

ASTM E545-05(2010)

发布

2005年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E545-14

当前最新

ASTM E545-19

 

 

引用标准

ASTM E1316 ASTM E2003 ASTM E2023 ASTM E543 ASTM E748 ASTM E803

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