ASTM B588-88(2010)
双束干涉显微技术测量透明涂层或不透明涂层厚度的标准试验方法

Standard Test Method for Measurement of Thickness of Transparent or Opaque Coatings by Double-Beam Interference Microscope Technique

作废

标准号

ASTM B588-88(2010)

发布

1988年

发布单位

美国材料与试验协会

当前最新

ASTM B588-88(2010)

 

 

引用标准

ASTM B504

适用范围

涂层的厚度通常对其性能至关重要。对于某些涂层-基体组合，干涉显微镜方法是测量涂层厚度的可靠方法。本测试方法适用于规范验收。
1.1 本测试方法涵盖利用双光束干涉显微镜测量透明金属氧化物和金属涂层的厚度。
1.2 测试方法要求样品表面足够镜面以形成可识别的条纹。
1.3 本测试方法可无损测量1至10%的m 厚的透明涂层，例如铝上的阳极涂层。该测试方法破坏性地用于0.1至10微米厚的不透明涂层，通过剥离涂层的一部分并测量涂层和暴露的基材之间的台阶高度。剥离法还可用于测量铝上 0.2 至 10 米厚的阳极涂层。
1.4 当该技术包括在不侵蚀基材的情况下完全剥离部分涂层时，该测试方法可用作测量铝或金属涂层上阳极膜厚度的参考方法。对于铝上的阳极膜，厚度必须大于0.4米；不确定性可高达 0.2 μm。对于金属涂层，厚度必须大于0.25微米；不确定性可高达 0.1 μm。
1.5 以 SI 单位表示的值应被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。
1.6 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

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