Marcos Hernandez现担任赛默飞CTS产品资深应用科学家一职,负责与ESD产品相关的所有科学研发,测试应用,设备评估等工作。对于HBM/MM/TLP/CDM等测试应用极为熟悉与精通,曾入选JEDEC/JESD 14.1标准协会工作组成员,目前担任ESDA HBM/JEDEC joint标准协会工作组成员。他是一位在ESD测试领域真正的技术先锋与应用专家。...
普拉萨德,刘亚强.复杂的引线键合互连工艺[M].中国宇航出版社,2015.[5] JEDEC JESD22-A104E-2014,Temperature Cycling[S].[6] JEDEC JESD22-A110E-2015,Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test (HAST)[S].[7] JEDEC JESD22-A101D...
目前,课题组已完成DDR4内存缓冲控制器芯片组架构设计、芯片设计及流片、样片封装与测试、 LRDIMM设计、内存子系统模拟验证平台搭建等工作,并通过了Intel和内存条厂商的测试认证,符合JEDEC 0.92标准,功耗指标明显优于国际同类产品。已申请发明ZL6项,累计销售近10万片,取得了较好的应用效果。...
热性能测定仪是全球唯一基于JEDEC “静态测试方法”(JESD51-1),实时采集器件瞬态温度响应曲线的仪器,其测试延迟时间(tMD)和分辨率均高达1um。热性能测定仪,是MicReD研发制造的用于半导体器件的先进热测试仪,用于测试IC、LED、散热器、热管等器件的热特性。...
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