ISO 10810:2010
表面化学分析.X射线光电子能谱学.分析导则
Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Guidelines for analysis
- 标准号
- ISO 10810:2010
- 发布
- 2010年
- 中文版
- GB/T 30704-2014 (等同采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 10810:2019
- 当前最新
- ISO 10810:2019
- 引用标准
- ISO 18115-1 ISO/IEC 17025
- 适用范围
- 本国际标准旨在帮助 X 射线光电子能谱仪操作员分析典型样品。 它引导操作员完成从样品处理、光谱仪校准和设置到宽扫描和窄扫描采集的分析，并提供有关量化和准备最终报告的建议。
ISO 10810:2010相似标准
推荐
X射线光电子能谱学
X射线光电子能谱学（英文：X-ray photoelectron spectroscopy，简称XPS）是一种用于测定材料中元素构成、实验式，以及其中所含元素化学态和电子态的定量能谱技术。这种技术用X射线照射所要分析的材料，同时测量从材料表面以下1纳米到10纳米范围内逸出电子的动能和数量，从而得到X射线光电子能谱。X射线光电子能谱技术需要在超高真空环境下进行。...
2014赛默飞 X射线光电子能谱学苑 — 冬季班
2015年预告：2015年赛默飞X射线光电子能谱学苑夏季班 2015年05月25-29日 上海2015年赛默飞X射线光电子能谱学苑冬季班 2015年11月02-06日 北京联系人：张爱琴 010-84193588-3649， annie.zhang@thermofisher.com附：授课专家简介：盛世善1945年1月生于上海1962-1967 复旦大学化学系物理化学专业 之后，在中国科学院大连化学物理研究所工作...
网络研讨会丨Presenting the multi-technique toolkit for an XPS system
相关推荐邀请函丨2020年赛默飞X射线光电子能谱学苑—— 秋季11月班（上海）2020年11月06日...
这个秋天，让我们在赛默飞XPS学苑相聚！
2017赛默飞X射线光电子能谱学苑秋季班为了有效推动表面分析应用技术的发展，深入了解光电子能谱技术的仪器性能特点，充分发挥已购仪器在教学科研生产工作中的作用，提高广大表面分析用户的分析测试水平，充分发挥仪器的功效，同时搭建一个用户与表面技术专家之间，用户与厂家之间技术深入交流的平台，共同探讨测试技术，解决实际使用中的难题，特邀国内著名的XPS技术专家为大家授课。...