BS EN 62415:2010
半导体器件.恒定电流电迁移试验
Semiconductor devices - Constant current electromigration test
- 标准号
- BS EN 62415:2010
- 发布
- 2010年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN 62415:2010
- 适用范围
- 该标准描述了金属线、通孔串和触点的常规恒流电迁移测试方法。
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